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碳化硅(SiC)器件动态参数测试系统

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陕西开尔文测控技术有限公司

  • 联系人:杜浩晨
  • 官网地址:www.kewtest.cn
  • 经营模式:制造商
  • 主营产品:IGBT测试仪,IGBT测试系统,半导体器件测试仪,轨道交通IGBT测试仪
  • 所在地:陕西省#陕西省陕西省西安市高新区工业园发展大道26号
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产品详情

Product details

碳化硅(SiC)器件动态参数测试系统本测试系统具有高测试精度、高灵敏度、高可靠性、高安全性的特点,实现碳化硅二极管、MOSFET器件开通时间、关断时间、快恢复二极管反向恢复时间、反向电流及反向恢复电荷等测试,通过计算机控制,示波器采集波形,由计算机处理数据并显示测试结果。 主要技术参数: 测试产品:SiC FRD,MOSFET(兼容Si基产品) 测试能力: a、开关时间测试 测试条件:ID:1A~1000A,VDS:5V~3500V,VGS:-10V~20V,Rg:手动可调,阻性,感性负载 可切换 测试参数:td(on)\tr\td(off)\tf:.01nS-200nS,Eon\Eoff:10uJ~100mJ B、反向恢复特性测试 测试条件:IF:1A~1000A,VR:5V~3500V, di/dt:50A/us~10000A/us 测试参数:trr:0.1nS-200nS,QC:1nC~1uC,lrm:1A~200A,Erec:0.1uJ~1mJ C、短路电流测试 测试条件:Pulse width:1us~100us,VDS:5V~3500V 测试参数:Peak ID:10A~1000A,Delta Vds:10V~200V碳化硅(SiC)器件动态参数测试系统

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  • 联系人姓名:杜浩晨
  • 联系人职位:经理
  • 联系人手机:13572125545
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